évaluation ou sanction : pourquoi et comment enquêter dans les musées ?

Auteurs

  • Emmanuelle VAREILLE
  • Patrice DE LA BROISE

DOI :

https://doi.org/10.14428/rec.v16i16.47903

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Publiée

2001-09-01

Numéro

Vol. 16: Interfaces sémiotiques et cognition

Rubrique

Dossier thématique

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